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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:41

题名/责任者:
Patterning of material layers in submicron region / U.S. Tandon, W.S. Khokle.
出版发行项:
New York : J. Wiley, 1993.
ISBN:
8122405614 (Wiley Eastern)
ISBN:
0470220635 (J. Wiley) :
载体形态项:
xii, 183 p. : ill. (some col.) ; 25 cm.
个人责任者:
Tandon, U. S., 1952-
附加个人名称:
Khokle, W. S.
论题主题:
Lithography, Electron beam.
论题主题:
X-ray lithography.
论题主题:
Integrated circuits-Masks.
论题主题:
Ion beam lithograph.
中图法分类号:
TN405
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN405/TUS E0210144   东5层4区      可借
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