MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：56
- 题名/责任者:
- 微纳米MOS器件可靠性与失效机理/郝跃, 刘红侠著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-03-020586-5 精装/CNY78.00
- 载体形态项:
- 446页:图;25cm
- 丛编项:
- 半导体科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 刘红侠 著
- 个人责任者:
- 郝跃 著
- 学科主题:
- 纳米材料-微电子技术-电子器件-研究
- 中图法分类号:
- TN4
- 一般附注:
- 国家科学技术学术著作出版基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN4/45 | 00934599 |  东3层4区
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可借 | |
| TN4/45 | 00934600 | 东3层4区
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可借 |
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