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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：58

题名/责任者:
半导体器件参数测试自动化/(苏) Ю.С.卡尔普主编 蔡连超, 程文霖译
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1966
ISBN及定价:
/CNY0.65
载体形态项:
168页:图;19cm
个人责任者:
卡尔普, Ю. С. (半导体技术) 主编
个人次要责任者:
蔡连超 译
个人次要责任者:
程文霖 译
学科主题:
半导体器件-参数测试
中图法分类号:
TN304.07
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN304.07/2 01264520   (东)下架室      分馆藏书
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