MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：48
- 题名/责任者:
- 电子元器件失效分析与典型案例/孔学东, 恩云飞主编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-118-04619-1/CNY150.00
- 载体形态项:
- XII, 260页:彩图;26cm
- 个人责任者:
- 恩云飞 主编
- 个人责任者:
- 孔学东 主编
- 学科主题:
- 电子元件-失效分析
- 中图法分类号:
- TN601
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN601/2 | 00814628 |  东3层4区
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| TN601/2 | 00814629 | 东3层4区
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可借 |
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