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MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：70

题名/责任者:
Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] / edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.
出版发行项:
New York, N.Y. : Plenum Press, c1980.
ISBN:
0306406284
载体形态项:
xxvi, 589 p. : ill. ; 26 cm.
丛编说明:
NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; v. 63
会议名称:
NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods (1979 : Durham, England)
附加个人名称:
Tanner, Brian Keith
附加个人名称:
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940-
论题主题:
Crystals-Defects-Congresses.
论题主题:
X-ray crystallography-Congresses.
中图法分类号:
O78-532
中图法分类号:
O78-53
一般附注:
"Published in cooperation with NATO Scientific Affairs Division."
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O78-53/NAT/(1979) W0107735   东5层4区      非可借
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