| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：51

题名/责任者:
Digest of papers IEEE 1979 semiconductor test conference.
出版发行项:
New Jersey : S.J., 1979.
载体形态项:
1 V. : ill. ; 25cm.
附加团体名称:
Test technology committee
论题主题:
Semiconductor Testing Conference.
中图法分类号:
TN3-53
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN3-53/DPI/(1979) W0103207 1979.  东5层4区      非可借
TN3-53/DPI/(1979) W0103208 1979.  东5层4区      非可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架