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- 题名/责任者:
- LSI制造与测试/上海市光学仪器工业公司
- 出版发行项:
- 上海:《LSI制造与测试》编辑部,1980-1997
- 统一书刊号:
- CN31-1459
- 载体形态项:
- 18v.;26cm
- 起止卷期:
- 1980,no.1(1980)-1981,no.3(1981,10)
- 前题名:
- 大规模集成电路制造与测试仪器设备译文集
- 团体责任者:
- 上海市光学仪器工业公司
- 中图法分类号:
- TN4
- 题名责任附注:
- 1985年起有并列题名:Teh Manufacture and Test for Large Scale Integr-Atea Circuits
- 连接字段附注:
- 继承:《大规模集成电路制造与测试仪器设备译文集》
- 出版周期附注:
- 季刊 1982
- 出版周期附注:
- 半年刊 1980-1981
- 出版周期附注:
- 双月刊 1983-1997
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN4 | K0112350 | 1989;1-6 |  东4层4区
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非可借 |
| TN4 | K0112349 | 1988;1-6 | 东4层4区
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非可借 |
| TN4 | K0112348 | 1987;1-6 | 东4层4区
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非可借 |
| TN4 | K0112347 | 1986;1-6 | 东4层4区
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非可借 |
| TN4 | K0112346 | 1985;1-4 | 东4层4区
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非可借 |
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