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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：74

题名/责任者:
半导体测量和仪器/(美) 鲁尼安(W.R.Runyan)编著 上海科技大学半导体材料教研室译
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1980
载体形态项:
322页;20cm
并列正题名:
Semiconductor measurements and instrumentation
个人责任者:
鲁尼恩 (Runyan, Walter R.), 1925- 编著
团体次要责任者:
上海科学技术大学 半导体材料教研室 译
学科主题:
半导体器件-测试
学科主题:
半导体材料-测试
中图法分类号:
TN307
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN307/2 E0231403   东6层4区      可借
TN307/2 E0231404   东6层4区      可借
TN307/2 E0231402   (东)四层(405)中文闭架库      剔旧报废
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