MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：75
- 题名/责任者:
- MEMS可靠性/(美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著 恩云飞, 贾玉斌, 黄钦文译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-121-18805-3/CNY55.00
- 载体形态项:
- 13, 220页:图;26cm
- 统一题名:
- MEMS reliability
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 哈策尔 (Hartzell, Allyson L.) 著
- 个人责任者:
- 席尔瓦 (Silva, Mark G.) 著
- 个人责任者:
- 谢伊 (Shea, Herbert R.) 著
- 个人次要责任者:
- 恩云飞 译
- 个人次要责任者:
- 贾玉斌 译
- 个人次要责任者:
- 黄钦文 译
- 学科主题:
- 微电子技术-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN4
- 版本附注:
- 据Springer Science + Business Media, 2011年英文版译出
- 责任者附注:
- 责任者Hartzell规范汉译姓: 哈策尔 ; 责任者Silva规范汉译姓: 席尔瓦 ; 责任者Shea规范汉译姓: 谢伊
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN4/20 | 01060860 |  东3层4区
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可借 | |
| TN4/20 | 01060861 | 东3层4区
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可借 |
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