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MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：52

题名/责任者:
Digest of papers IEEE 1979 semiconductor test conference.
出版发行项:
New Jersey : S.J., 1979.
载体形态项:
1 V. : ill. ; 25cm.
附加团体名称:
Test technology committee
论题主题:
Semiconductor Testing Conference.
中图法分类号:
TN3-53
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN3-53/DPI/(1979) W0103207 1979.  东5层4区      非可借
TN3-53/DPI/(1979) W0103208 1979.  东5层4区      非可借
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