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MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：47

题名/责任者:
Autotestcon '89 : conference record : IEEE International Automatic Testing Conference / sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.].
出版发行项:
New York : IEEE, c1989.
载体形态项:
357 p. : ill., ports. ; 29 cm.
会议名称:
Autotestcon '89 (1989 : Philadelphia)
附加团体名称:
Institute of Electrical and Electronics Engineers.
论题主题:
Automatic checkout equipment-Congresses.
中图法分类号:
TP274-53
书目附注:
Includes bibliographical references.
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP274-53/AN/(1989) E0273185  v.1989 东5层4区      非可借
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